NTC-test met vier draden (10K/100K): Aanpasbaar
IR-testnauwkeurigheid: ± 2%/± 5%/± 10%
Solenoïde klep: 50mA-2A 0,2-40V (continuum/gepulseerd)
Bewaarplaats: Afhankelijk van het geheugen van de computer
Test van gelijkstroomlekken: 0.01mA-6mA/stap 0.01mA
Afmetingen: 1500*800*900/ 1200*570*630 mm
Naam van het product: SAIMR6000
OS-nauwkeurigheid: ± 5%
Naam van het product: SAIMR8000 Hoogspanningsdraad/kabel harnas tester
Diode/Zenerdiode: 0-40V/ 0,1mA/1mA
Diode/Zenerdiode: 0-40V/ 0,1mA/1mA
Bewaarplaats: Afhankelijk van het geheugen van de computer
IR-test: 500kΩ-10GΩ(10V-1000V)
Bewaarplaats: Afhankelijk van het geheugen van de computer
Punten: 32/64/128/256...20480PIN
Test van gelijkstroomlekken: 0.01mA-6mA/stap 0.01mA
IR-testnauwkeurigheid: ± 2%/± 5%/± 10%
Genauigheid van de test op gelijkstroomweerstand: Voor de toepassing van de in punt 6.2.4.1 van dit reglement vastgestelde voorschriften moet de in pu
IR-testnauwkeurigheid: ± 2%/± 5%/± 10%
Genauigheid van de test op gelijkstroomweerstand: Voor de toepassing van de in punt 6.2.4.1 van dit reglement vastgestelde voorschriften moet de in pu
AC-standstandspanningstest: 10V-4000V ((optioneel 5000V) /stap 10mA
IR-test: 500kΩ-10GΩ(10V-1000V)
Stuur uw vraag rechtstreeks naar ons